Отправить запрос
Заказать звонок

8V182512IDGGREP Texas instruments

Артикул

8V182512IDGGREP

Производитель

Texas instruments

Описание

Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device

Заказать
Получить консультацию

В связи с резкими скачками курса валют, цены на товары, выложенные на сайте, могут отличаться, как в большую, так и в меньшую сторону. Пожалуйста, уточняйте актуальные цены у менеджеров. Приведённые цены не являются публичной офертой.

← Назад

Узнайте стоимость
прямо сейчас

Отправьте заявку и мы ответим
в течение 15 минут

Отправить запрос
Заказать звонок